Equipo Láser de medición de suciedad
2007 - 01:30 | Posteado en: Innovar
El siguiente proyecto obtuvo el Primer Premio de Innovar 2007. El “Equipo Láser de medición de suciedad” fue realizado por Gabriel Bilmes, del Centro de Investigaciones Ópticas, CONICET y Universidad Nacional de La Plata, y Oscar Martínez, del LEC (Laboratorio de Electrónica Científica), UBA y CONICET, y recibieron un premio de 30.000 pesos.
La creación consiste en un equipo que posee un método para medir la suciedad total de cualquier tipo de superficie, utilizando ablación láser y detección acústica. ELMES (equipo láser para medición de suciedad de chapas de acero) ha sido instalado y ensayado en la planta de Ensenada de la empresa Siderar. Sin embargo, la aplicación es de múltiples usos en la industria.
Sus creadores nos cuentan en detalle que “la medición e identificación del grado de limpieza de una superficie o de suciedad residual son problemas habituales en la industria, en la producción y en una amplia gama de procesos. En estos casos la suciedad superficial, puede ser descripta como una película delgada, oscura, grasosa y semitrasparente, de espesor variable.”
En cuanto a “los métodos convencionales utilizados en la industria y la producción para medición e identificación de suciedad superficial poseen las siguientes limitaciones: no permiten medidas a tiempo real; deben ser realizados en laboratorio y fuera de la línea de producción, en la mayoría de los casos mediante engorrosos procesos; requieren personal especializado y consumo de tiempo; no son automáticos y habitualmente miden una pequeña porción de la muestra.”
Durante la exposición realizamos el siguiente video para tener una mayor idea sobre el producto:
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